一、應用場景

熱電材料目前在半導體制冷和溫差發電等領域得到廣泛應用，本產品 CCM-3-Y 便攜式澤貝殼系數測量儀可以用于一般熱電材料的 SEEBECK 系數常溫測量，和半導體制冷片的 ZT 值和電阻值測量，是熱電材料和器件研究生產的重要工具。

樣品塞貝克系數

平均優值系數 Z（1/K）

電阻值測量

物理教學實驗

熱電材料初步篩選

二、功能和原理介紹

2.1 SEEBECK 系數測試功能（端口 A）

SEEBECK 系數雙端探筆，集成了冷探針和熱探針。其中熱探針包含銅探針、熱電偶和加熱圈；

測試過程中給 Seebeck 熱探針加熱，使熱探針和冷探針之間始終保持一個固定的溫差 T，同時記錄冷熱探針之間的熱電勢 V，根據公式即可計算出材料的 Seebeck 系數值；

                     圖 2-1 SEEBECK 測試原理圖

    圖 2-2 塞貝克測試探筆尺寸圖

2.2 電阻測量功能（端口 B）

該功能通過四線法測量樣品電阻值，避免了探針和樣品接觸電阻的影響；

并且在測試時可以選擇不同的測量模式；

自動模式：測試軟件自動選擇測試電流，最終測試結果為多組電流和電壓值數據擬合結果；

手動模式：采用設定電流值測試樣品電阻值；特別針對樣品的 IV 曲線測試功能；測試

過程中電流自動切換方向，以減少測試誤差。

同時該界面具備恒流源輸出和微弱信號采集功能；具體使用方法請參照 4.2 節。

2.3 半導體制冷片參數測量（端口 B）

哈曼法測試原理：給樣品通一個恒定的電流值，根據帕爾帖效應熱電材料會在兩端吸熱

和放熱，并產生一個溫差電壓 Vs。當溫差和熱傳導達到平衡時記錄此時的電壓 Vo，Vo 包含器件電阻的電壓 Vr 和 Vs。接著切斷電流，Vr 同時消失，而 Vs 逐漸減小。記錄此時刻前后電壓變化曲線，使用數據分析方法找到 Vr。Vs/Vr 則代表器件的 ZT 值。

                           圖 3-1 哈曼法測試原理

三、CCM-3-Y 便攜式澤貝殼系數測量儀參數表